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2021-07
2021-07-28
電子模擬開關(guān)的模擬特性和開關(guān)特性
許多工程師第一次使用模擬開關(guān),往往會把模擬開關(guān)完全等同于機械開關(guān)。其實模擬開關(guān)雖然具備開關(guān)性,但和機械開關(guān)有所不同,它本身還具有半導(dǎo)體特性: 模擬開關(guān)的模擬特性 ?。?)導(dǎo)通電阻(Ron)隨輸入信號(Vin)變化而變化 圖1a是模擬開關(guān)的簡單示意圖,由圖中可以看出模擬開關(guān)的常開常閉通道實際上是由兩個對偶的N溝道MOSFET與P溝道MOSFET構(gòu)成,可使信號雙向傳輸,如果將不同Vin值所對應(yīng)的P溝道MOSFET與N溝道MOSFET的導(dǎo)通電阻并聯(lián),可得到圖1b并聯(lián)結(jié)構(gòu)下Ron隨輸入電壓(Vin)的變化關(guān)系,如果不考慮溫度、電源電壓的影響,Ron隨Vin呈線性關(guān)系,將導(dǎo)致插入損耗的變化,使模擬開關(guān)產(chǎn)生總諧波失真(THD)。此外,Ron也受電源電壓的影響,通常隨著電源電壓的上升而減小。 ?。?)模擬開關(guān)輸入有嚴格的輸入信號范圍 由于模擬開關(guān)是半導(dǎo)體器件,當(dāng)輸入信號過低(低于負電源電壓)或者過高(高于正電源電壓)時,MOSFET處于反向偏置,當(dāng)電壓達到某一值時(超出限值0.5~4V),此時開關(guān)無法正常工作,嚴重者甚至損壞。因此模擬開關(guān)在應(yīng)用中,一定要注意輸入信號不要超出規(guī)定的范圍。 模擬開關(guān)部分電路可以等效成圖2 ?。?)電荷注入 應(yīng)用機械開關(guān)我們當(dāng)然希望Ron越低越好,因為低阻可以降低信號的損耗。然而對于模擬開關(guān)而言,低Ron并非適用于所有的應(yīng)用,較低的Ron需要占據(jù)較大的芯片面積,從而產(chǎn)生較大的輸入電容(雜散電容),與構(gòu)成模擬開關(guān)的NMOS和PMOS管相伴的雜散電容引起的一種電荷變化稱為“電荷注入”。在每個開關(guān)周期其充電和放電過程會消耗更多的電流,而且還會產(chǎn)生正向尖峰和負向尖峰。時間常數(shù)t=RC,充電時間取決于負載電阻R和電容C,一般持續(xù)幾十ns。這說明低Ron具有更長的導(dǎo)通和關(guān)斷時間。為此,選擇模擬開關(guān)應(yīng)該綜合權(quán)衡Ron和注入電荷。 ?。?)開關(guān)斷開時仍會有感應(yīng)信號漏出 這一特性指的是當(dāng)模擬開關(guān)傳輸交流信號時,在斷開情況下,仍然會有一部分信號通過感應(yīng)由輸入端傳到輸出端,或者由一個通道傳到另一個通道。通常信號的頻率越高,信號泄漏的程度越嚴重。 (5)傳輸電流比較小 模擬開關(guān)不同于機械開關(guān),它通常只能傳輸小電流,目前CMOS工藝的模擬開關(guān)允許連續(xù)傳輸?shù)碾娏鞔蠖嘈∮?00mA。 ?。?)邏輯控制端驅(qū)動電流極小 機械開關(guān)邏輯控制端的驅(qū)動電流往往都是mA級,有時單純靠數(shù)字I/O很難驅(qū)動。而模擬開關(guān)的邏輯控制端驅(qū)動電流極小,一般低于nA級。因此,它完全可以由數(shù)字I/O直接驅(qū)動,從而達到降低功耗、簡化電路的目的。 模擬開關(guān)的開關(guān)特性 ? ?。?)信號可雙向傳輸 有些人習(xí)慣于把模擬開關(guān)的兩個常開常閉端稱之為輸入端,公共端稱之為輸出端,其實這只是根據(jù)模擬開關(guān)的具體應(yīng)用給予的臨時定義。模擬開關(guān)大多可以使信號雙向傳輸,如果忽略這一點,就很容易使電路出現(xiàn)問題,比如將電壓反向偏置、電流倒灌等。 ?。?)開關(guān)斷開后漏電流極小 模擬開關(guān)在斷開(OFF)時會呈現(xiàn)高阻狀態(tài),兩傳輸端間的漏電流極小,一般只有nA級以下,很多模擬開關(guān)斷開后的漏電流約為1nA。這么微弱的電流在應(yīng)用中可忽略不計,模擬開關(guān)此時可被認為是理想斷開的。 模擬開關(guān)在斷開時的等效電路如圖3 總之,模擬開關(guān)是具有開關(guān)功能的半導(dǎo)體器件,在應(yīng)用過程中既要充分利用它的開關(guān)功能,又要考慮它的半導(dǎo)體特性,否則可能會出現(xiàn)意想不到的麻煩。
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2021-01
2021-01-09
集成電路電浪涌的產(chǎn)生和預(yù)防
?器件在使用過程中最常見的失效模式之一就是電浪涌引起的電過載(EOS)損傷或燒毀。下面簡聊下集成電路電浪涌的產(chǎn)生和預(yù)防。 1.?什么是電浪涌(電過載EOS) ? ??電源電網(wǎng)的波動,電路狀態(tài)的變化,外來干擾信號的饋入以及旁鄰元器件的失效,都會在電路中產(chǎn)生峰值很高的電流或電壓脈沖,稱為電浪涌(電過載EOS),電浪涌會使器件瞬間工作在超過最大額定值的狀態(tài)下。電浪涌的平均功率很小,但瞬時功率很大,足以引起器件失效。有時較低功率的浪涌也會引起器件自激或CMOS電路閂鎖效應(yīng)而導(dǎo)致失效。電浪涌引起的失效占集成電路使用失效的50%以上。
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